lunes, 28 de junio de 2010

Electron diffraction (LEED and RHEED) 10ma publicacion. seccion 1. EES. alfonso herrera 2do parcial

Difraccion de ondas

Es el fenomeno ondulatorio,desviacion que se produce en la propagacion rectilinea de las ondas de cualquier tipo cunado pasan por el borde de un objeto difraccion falsea la imagen del objeto.en optica,la difraccion de los rayos luminosos produce franjaso bandas de difraccion,en los contornos de la sombraLos fenómenos de interferencia y difracción propios de las ondas mecánicas y del sonido en particular son extensibles también a las ondas electromagnéticas y, por tanto, a la luz.En el caso de la luz es casi imposible que haces procedentes de distintas fuentes tengan una misma frecuencia (salvo en la luz láser). Por tanto, para provocar interferencias se utiliza una misma fuente que emite un solo haz. Mediante un dispositivo específico, dicho haz se descompone en varios, que se hacen confluir finalmente en un mismo punto con una cierta diferencia de fase.Para ello se utilizan dos procedimientos alternativos:* Se obliga a que los dos haces en que se descompone el primer haz recorran caminos de diferente longitud.* Se usan superficies reflectantes, ya que la onda reflejada presenta un desfase de 180º con respecto a la incidente, si el segundo medio es más denso que el primero.

Alfonso Herrera
Electronica del estado solido
seccion 1

Electron diffraction (LEED and RHEED) 9na publicacion. seccion 1. EES. alfonso herrera 2do parcial

Radio Propagation by Diffraction Over an Obstruction

Propagation ordinarily can occur by groundwave between two or more radio antennas located on or near the Earth's surface. Even if an obstruction such as a hill, mountain, or building intervenes, propagation still can occur via slant paths over the top edge of the obstruction. This depends on diffraction over the edge. So, in addition to the basic or spreading loss along the sum of the slant paths, D1+D2, there is an additional loss due to diffraction.

For zero diffraction loss the direct line of sight path between a transmitter and a receiver must clear the obstruction by several wavelengths. When the direct path just grazes the obstruction diffraction loss is exactly 6 dB. This program does not compute the small loss or gain as a direct path becomes well clear of an obstruction.

The least diffraction loss occurs when the top of an obstruction is sharp, a condition which is termed "knife edge" diffraction. If the top of an obstruction is more rounded, i.e., if the radius of curvature increases relative to a wavelength, additional diffraction loss occurs.
When the radius of curvature exceeds the height of an obstruction, or when a ridge has an irregular top edge, the uncertainty of predictions increases.

When the radius of obstruction curvature is not small, the waves pass over a curved top via groundwave. So there also is a ground loss over this relatively short distance. However, the program does not ask for ground conductivity and the small loss in the ground, probably less than 1 dB, is ignored.

It may occur that path loss due to diffraction is less than the groundwave loss which would occur if the obstacle was removed, depending on type of terrain. To make such comparisons use the program GrndWave3 by the same author.

Earth curvature is taken into account in the calculations. A warning is given if the height of an obstacle, such as a mountain range, is too low to appear above the horizon as seen from either end of the path. This program must not be used to predict loss on long sea paths where the horizon itself is the obstruction. Use the GrndWave3 program instead. However, the computed loss of the sum of the two direct slant paths, D1+D2, is always correct.

This program cannot take into account changes in antenna gain which result from different elevation angles needed to clear high obstacles. This must be taken into account by the program user when entering antenna gains. It matters most when the antennas are simple verticals for which the power gain relative to an isotrope radiator along the horizontal is three, but falls to zero at an elevation angle of 90 degrees. However, this predicting error will not occur when the elevation angle of a beam antenna can be adjusted to clear the height of an obstacle.

The program's frequency range extends from LF to GHz provided an obstacle's height is greater than about four wavelengths and its width is greater than 20 wavelengths. The possibility of propagation around the sides of an obstacle or via sky waves is ignored.

Slant path lengths may be from a few metres to 100Km provided the height of an obstruction is sufficient to clear the bulge in the earth's surface due to the Earth's curvature. The program assumes both antennas and the base of an obstruction are at the same height above sea level. It is not worth the inconvenience of making precise adjustments to input values to improve accuracy. Note that ground and slant path distances are approximately equal at low elevation angles.

At a slant path distance of 25Km (15 miles) from the transmitter an obstruction must be at least 55m (180 ft) high to come into view. At 100Km (62 miles) it must be at least 850m (2800 ft) high. At these low heights very low-angle direct waves may not clear undulating ground local to the antennas. They may become indistinguishable from the groundwave and therefore suffer the same type of loss.

A simplification which will cause little error is to assume that the height of an obstruction is that above a straight line drawn between the two antennas. This need be considered only when transmitting and receiving antennas are at greatly different heights above sea level.
When an antenna is known to be inefficient, the inefficiency can be allowed for by entering a power gain less than unity. The smallest power gain accepted is 0.1 (-10 dBi).
If antenna power gain is not known enter 1. Computed results are then average values disregarding directivity in both the vertical and horizontal radiation planes.

A "matched receiver" is one with its input resistance matched to the antenna's radiation resistance such that maximum power is transferred. Maximum receiver power is 50-percent of the total power available to the antenna. The other 50-percent is re-radiated.

Alfonso Herrera
Electronica del estado solido
seccion 1

Electron diffraction (LEED and RHEED) 8va publicacion. seccion 1. EES. alfonso herrera 2do parcial

Definition of Diffraction of Light

Diffraction of light is the bending of light waves around an object. The amount of light diffracted or which changes direction is dependent on an object's size. This also applies to light waves that pass through an opening, such as the aperture of a camera or through the pupil of an eye. As light waves pass around the edge of an object or through an opening, light is diffracted or broken into the colors of the rainbow.


The deviation of the direction light is traveling occurs when the light passes around the edge of an object. The amount of bending which occurs is based on the wavelength of the light or the objects size in relation to light's wavelength. In addition to bending, light is sometimes broken into its basic components. These components are the colors of the rainbow red, orange, yellow, green, blue, indigo and violet (ROYGBIV). Red light has the longest wavelength, while violet has the shortest. This is why red is typically the prominent color in a rainbow and appears to be wider than violet light. This also accounts for a red sky just before sunset or just after sunrise.
Occasionally water vapor in the air causes the red light to separate readily from the other colors as the light waves been around the droplets of water.Full lunar eclipses permit light waves to bend around the edges of the moon to let the side facing earth remain visible, albeit an orange-brown color instead of the white color. This is a due to the distance of the moon from earth, allowing the moon to completely cover the sun. Sunlight then bends around the edges of the moon to provide the orange-brown color. Interference of the light waves with each other causes the diffracted light to become brighter or dimmer during the diffraction process. Amplification interference causes the light to become brighter and cancellation interference causes the light to become dimmer.


Bending of light also occurs in diffraction grating which has tiny slits cut in the material. Diffraction grating is made from paper, plastic, metal or other materials that cause the light waves to separate into the colors of the rainbow as the light passes through the tiny slits. The size of the slits cut in diffraction grating material are extremely small and may contain as many as 13,500 per inch. Parallel tiny grooves in a polished surface, such as plastic, also cause the diffraction of light. One example of polished surfaces with parallel tiny groves is a compact disk (CD). The sharp edges of these groves cause the light to bend and separate into the colors of the rainbow.


Appearance of a rainbow is the result of the diffraction of light. As sunlight encounters water droplets in the air, the light is broken into the colors of the rainbow. This typically occurs just before or after it rains and the air contains a large amount of water vapor or water droplets.Separation into the colors of the rainbow also occurs when a CD is placed at an appropriate angle in relation to a light source. The light waves bend around the edges of the groves cut into the CD and separates into the colors of the rainbow.


Twinkling stars are another example of diffraction of light. As light from stars pass through the earth's atmosphere which is laden with water vapor, the light bends around the water droplets causing the twinkling effect. The light waves become brighter or dimmer and the colors constantly change due to amplification or cancellation interference.


Often diffraction and refraction of light are confused with each other. Refraction of light is caused by light passing through transparent material, such as water, that causes the speed of the light wave to slow down and bend. Light is not separated into the colors of the rainbow, as with diffraction.

Alfonso Herrera
Electronica del estado solido
seccion 1

Electron diffraction (LEED and RHEED) 7ma publicacion. seccion 1. EES. alfonso herrera 2do parcial

Filo de la navaja efecto

En una onda electromagnética de propagación , el efecto de punta cuchillo o el borde de difracción es una redirección por difracción de una parte del incidente de radiación que afecta a una definida por el obstáculo así como una gama de montaña o al borde de un edificio.

El cuchillo de punta efecto se explica por el principio de Huygens-Fresnel , que establece que una definida así la obstrucción de una onda electromagnética actúa como una fuente secundaria, y crea un nuevo frente de onda .
El efecto de punta cuchillo es el resultado de la media de plano problema, originalmente resuelto por Arnold Sommerfeld con una onda plana formulación del espectro. Una generalización del problema halfplane es el problema de la cuña, como un problema solucionable valores en la frontera en coordenadas cilíndricas.
La solución en coordenadas cilíndricas se extendió luego al régimen óptico por Joseph B. Keller , quien introdujo la noción de los coeficientes de difracción a través de su teoría geométrica de la difracción (GTD). Pathak Kouyoumjian y amplió el singular) Keller coeficientes (a través de la teoría de uniforme de la difracción (UTD).
Alfonso Herrera
Electronica del estado solido
seccion 1

domingo, 27 de junio de 2010

Electron diffraction (LEED and RHEED) 6ta publicacion. seccion 1. EES. alfonso herrera 2do parcial

Microscopio electrónico de barrido

Microscopio electrónico de barrido.

El Microscopio electrónico de barrido o SEM , es aquel que utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen. Tiene una gran profundidad de campo, la cual permite que se enfoque a la vez una gran parte de la muestra. También produce imágenes de alta resolución, que significa que características espacialmente cercanas en la muestra pueden ser examinadas a una alta magnificación. La preparación de las muestras es relativamente fácil pues la mayoría de SEMs sólo requieren que estas sean conductoras.

En el microscopio electrónico de barrido la muestra es recubierta con una capa de carbón o una capa delgada de un metal como el oro para darle propiedades conductoras a la muestra. Posteriormente es barrida con los electrones acelerados que viajan a través del cañón. Un detector mide la cantidad de electrones enviados que arroja la intensidad de la zona de muestra, siendo capaz de mostrar figuras en tres dimensiones, proyectados en una imagen de TV o una imagen digital. Su resolución está entre 3 y 20 nm, dependiendo del microscopio. Inventado en 1931 por Ernst Ruska, permite una aproximación profunda al mundo atómico. Permite obtener imágenes de gran resolución en materiales pétreos, metálicos y orgánicos. La luz se sustituye por un haz de electrones, las lentes por electroimanes y las muestras se hacen conductoras metalizando su superficie.

En el microscopio electrónico de barrido es necesario acelerar los electrones en un campo eléctrico, para aprovechar de esta manera su comportamiento ondulatorio, lo cual se lleva a cabo en la columna del microscopio, donde se aceleran por una diferencia de potencial de 1,000 a 30,000 voltios. Los electrones acelerados por un voltaje pequeño son utilizados para muestras muy sensibles, como podrían ser las muestras biológicas sin preparación adicional, o muestras muy aislantes. Los altos voltajes se utilizan para muestras metálicas, ya que éstas en general no sufren daños como las biológicas, y de esta manera se aprovecha la menor longitud de onda para tener una mejor resolución. Los electrones acelerados salen del cañón, y son enfocados por las lentes condensadora y objetiva, cuya función es reducir la imagen del filamento, de manera que incida en la muestra un haz de electrones lo más pequeño posible (para así tener una mejor resolución). Con las bobinas deflectoras se barre este fino haz de electrones sobre la muestra, punto por punto y línea por línea.

Cuando el haz incide sobre la muestra, se producen muchas interacciones entre los electrones del mismo haz, y los átomos de la muestra; puede haber por ejemplo, electrones rebotados como las bolas de billar. Por otra parte, la energía que pierden los electrones al "Chocar" contra la muestra puede hacer que otros electrones salgan despedidos (electrones secundarios), y producir rayos X, electrones Auger, etc. El más común de éstos es el que detecta electrones secundarios, y es con el que se hacen la mayoría de las imágenes de microscopios de barrido.

Podemos también adquirir la señal de Rayos X que se produce cuando se desprenden estos mismos de la muestra, y posteriormente hacer un análisis espectrográfico de la composición de la muestra.


Cabeza de hormiga vista con un (MEB).
Son ampliamente utilizados en la biología celular. Aunque permite una menor capacidad de aumento que el microscopio electrónico de transmisión, este permite apreciar con mayor facilidad texturas y objetos en tres (3) dimensiones que hayan sido pulverizados metálicamente antes de su observación. Por esta razón solamente pueden ser observados organismos muertos, y no se puede ir más allá de la textura externa que se quiera ver. Los microscopios electrónicos sólo pueden ofrecer imágenes en blanco y negro puesto que no utilizan la luz.

Este instrumento permite la observación y caracterización superficial de materiales inorgánicos y orgánicos, entregando información morfológica del material analizado. A partir de él se producen distintos tipos de señal que se generan desde la muestra y se utilizan para examinar muchas de sus características. Con él se pueden realizar estudios de los aspectos morfológicos de zonas microscópicas de diversos materiales, además del procesamiento y análisis de las imágenes obtenidas.

Alfonso Herrera
Electronica del estado solido
seccion 1

Electron diffraction (LEED and RHEED) 5ta publicacion. seccion 1. EES. alfonso herrera 2do parcial


En física, la difracción es un fenómeno característico de las ondas que consiste en ladispersión y curvado aparente de las ondas cuando encuentran un obstáculo. La difracción ocurre en todo tipo de ondas, desde ondas sonoras, ondas en la superficie de un fluido y ondas electromagnéticas como la luz y las ondas de radio. También sucede cuando un grupo de ondas de tamaño finito se propaga; por ejemplo, por causa de la difracción, un haz angosto de ondas de luz de un láser debe finalmente divergir en un rayo más amplio a una distancia suficiente del emisor.

El fenómeno de la difracción es un fenómeno de tipo interferencial y como tal requiere la superposición de ondas coherentes entre sí.

Se produce cuando la longitud de onda es mayor que las dimensiones del objeto, por tanto, los efectos de la difracción disminuyen hasta hacerse indetectables a medida que el tamaño del objeto aumenta comparado con la longitud de onda.

En el espectro electromagnético los Rayos X tienen longitudes de onda similares a lasdistancias interatómicas en la materia. Es posible por lo tanto utilizar la difracción de rayos X como un método para explorar la naturaleza de la estructura cristalina. La difracción producida por una estructura cristalina verifica la ley de Bragg.

Debido a la dualidad onda-corpúsculo característica de la mecánica cuántica es posibleobservar la difracción de partículas como neutrones o electrones. En los inicios de lamecánica cuántica este fue uno de los argumentos más claros a favor de la descripciónondulatoria que realiza la mecánica cuántica de las partículas subatómicas.

Como curiosidad, esta técnica se utilizó para intentar descubrir la estructura del ADN, y fue una de las pruebas experimentales de su estructura de doble hélice propuesta por James Watsony Francis Cricken 1953.

Límite de resolución por difracción

Disco de Airy ideal producido por la difracción de una fuente de luz puntual a través de un sistema óptico de abertura circular.
La difracción es un factor limitante en la calidad de las imágenes producidas porocultamiento óptico. La difracción producida por una apertura circular produce un patrón de interferencia característico de modo que la imagen obtenida de una fuente de luz puntual forma una mancha difusa con un patrón de líneas concentradas en una sola.Una fuente puntual produce un disco luminoso denominado disco de Airy y su diámetroconstituye el límite de resolución por difracción de un instrumento óptico. El disco de Airy está rodeado de círculos concéntricos de luz y oscuridad similares a las franjas deinterferencia producidas por rendijas alargadas. De este modo la imagen de una estrellalejana observada por un telescopio es una mancha borrosa del tamaño del disco de Airy. El tamaño del disco de Airy se calcula a través de la siguiente expresión:

Donde d es el diámetro del disco, λ es la longitud de onda,f la distancia focal ya eldiámetro de apertura del sistema óptico. El efecto fotoeléctrico no permite que la difracción se produzca correctamente.

El limite de la resolución estará dado por el criterio de Rayleigh, según el cual dos objetos son distinguibles solo si el máximo del radio de Airy de un objeto coincide con el mínimo del otro.

La difracción es un fenómeno que afecta a la propagación del sonido. Hablamos dedifracción cuando el sonido en lugar de seguir en la dirección normal, se dispersa en unacontinua dirección.

La explicación la encontramos en el Principio de Huygens que establece que cualquierpunto de un frente de ondas es susceptible de convertirse en un nuevo foco emisor de ondas idénticas a la que lo originó. De acuerdo con este principio, cuando la onda incide sobre una abertura o un obstáculo que impide su propagación, todos los puntos de su plano se convierten en fuentes secundarias de ondas, emitiendo nuevas ondas, denominadas ondas difractadas.

La difracción se puede producir por dos motivos diferentes:

1. porque una onda sonora encuentra a su paso un pequeño obstáculo y lo rodea. Las Bajas frecuencias son más capaces de rodear los obstáculos que las altas. Esto esposible porque las longitudes de onda en el espectro audible están entre 3 cm y 12m, por lo que son lo suficientemente grandes para superar la mayor parte de losobstáculos que encuentran.

2. porque una onda sonora topa con un pequeño agujero y lo atraviesa. La cantidad de difracción estará dada en función del tamaño de la propia abertura y de la longitud de onda.

Si una abertura es grande en comparación con la longitud de onda, el efecto de la difracción es pequeño. La onda se propaga en líneas rectas o rayos, como la luz.

Cuando el tamaño de la abertura es menor en comparación con la longitud de onda, los efectos de la difracción son grandes y el sonido se comporta como si fuese una luz que procede de una fuente puntual localizada en la abertura.

La cristalografía de rayos X es una técnica consistente en hacer pasar un haz de rayos X a través de un cristal de la sustancia sujeta a estudio. El haz se escinde en varias direcciones debido a la simetría de la agrupación de átomos y, por difracción, da lugar a un patrón de intensidades que puede interpretarse según la ubicación de los átomos en el cristal, aplicando la ley de Bragg.

Es una de las técnicas que goza de mayor prestigio entre la comunidad científica paradilucidar estructuras cristalinas, debido a su precisión y a la experiencia acumulada durante décadas, elementos que la hacen muy fiable. Sus mayores limitaciones se deben a la necesidad de trabajar con sistemas cristalinos, por lo que no es aplicable a disoluciones, a sistemas biológicos in vivo, a sistemas amorfos o a gases.

Es posible trabajar conmonocristal es o con polvo microcristalino, consiguiéndosediferentes datos en ambos casos. Para la resolución de los parámetros de la celda unidadpuede ser suficiente la difracción de rayos X en polvo, mientras que para una dilucidación precisa de las posiciones atómicas es conveniente la difracción de rayos X en mono cristal.

La cristalografía de rayos X desempeñó un papel esencial en la descripción de la doblehélice de la molécula de ADN técnica se utiliza ampliamente en la determinación de lasestructuras de las proteínas.
Alfonso Herrera
Electronica del estado solido
seccion 1

martes, 22 de junio de 2010

Electron diffraction (LEED and RHEED) 4ta publicacion. seccion 1. EES. alfonso herrera 2do parcial

Red de difracción

En óptica, una red de difracción es un componente óptico con un patrón regular, que divide (difracta) la luz en varios haces que viajan en diferentes direcciones. Las direcciones de esos haces depende del espaciado de la red y de la longitud de onda de la luz incidente, de modo que la red actúa como un elemento dispersivo. Gracias a esto, las redes se utilizan habitualmente en monocromadores y espectrómetros.

Espectrómetro Echelle: La primera red de difracción está optimizada para los órdenes de difracción bajos, mientras que los órdenes superiores mejoran su intensidad de salida con la red Echelle. Ambos elementos difractivos están montados ortogonalmente de modo que los órdenes con mayor intensidad sean separados transversalmente. Debido a que sólo algunas partes del espectro de cada orden coinciden espacialmente, sólo se presentarán algunas partes de solapamiento espectral (como la línea verde en la región roja).

La red de difracción Echelle (del francés, échelle, escalera) es un tipo de red de difracción que se caracteriza por presentar una densidad de líneas relativamente baja pero presenta mayor número de órdenes de difracción. Debido a esto, se obtiene una mayor eficiencia y menores efectos de polarización en rangos de longitudes de onda mayores. Las redes Echelle son usadas en espectrómetros e instrumentos similares como HARPS y numerosos instrumentos astronómicos.

Principio de funcionamiento
Al igual que otras redes de difracción, la red Echelle está formada por una serie de ranuras (escalones) con anchos cercanos a la longitud de onda de la luz a difractar. Esta estructura permite que la luz de la longitud de onda asociada a cada ranura sea difractada hacia la posición correspondiente al orden cero cuando su incidencia sea normal al plano de difracción; mientras que los órdenes mayores serán refractados con ángulos específicos definidos por la densidad de la red para cada orden seleccionado. La separación angular entre distintos órdenes decrece monótonamente conforme aumenta el número de orden, por lo que para órdenes superiores la separación entre los mismos tiende a desaparecer, mientras que los órdenes menores suelen quedar correctamente separados.
Alfonso Herrera
Electronica del estado solido
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Electron diffraction (LEED and RHEED) 3ra publicacion. seccion 1. EES. alfonso herrera 2do parcial

Efecto Doppler

El efecto Doppler, llamado así por el austríaco Christian Doppler, es el cambio en la frecuencia de una onda producido por el movimiento de la fuente respecto a su observador. Doppler propuso este efecto en 1842 en su tratado Über das farbige Licht der Doppelsterne und einige andere Gestirne des Himmels (Sobre el color de la luz en estrellas binarias y otros astros).

El científico holandés Christoph Hendrik Diederik Buys Ballot investigó esta hipótesis en 1845 para el caso de ondas sonoras y confirmó que el tono de un sonido emitido por una fuente que se aproxima al observador es más agudo que si la fuente se aleja. Hippolyte Fizeau descubrió independientemente el mismo fenómeno en el caso de ondas electromagnéticas en 1848. En Francia este efecto se conoce como "Efecto Doppler-Fizeau" y en Holanda como el efecto "doppler-Gestirne".

Un micrófono inmóvil registra las sirenas de los policías en movimiento en diversos tonos dependiendo de su dirección relativa.

En el caso del espectro visible de la radiación electromagnética, si el objeto se aleja, su luz se desplaza a longitudes de onda más largas, desplazándose hacia el rojo. Si el objeto se acerca, su luz presenta una longitud de onda más corta, desplazándose hacia el azul. Esta desviación hacia el rojo o el azul es muy leve incluso para velocidades elevadas, como las velocidades relativas entre estrellas o entre galaxias, y el ojo humano no puede captarlo, solamente medirlo indirectamente utilizando instrumentos de precisión como espectrómetros. Si el objeto emisor se moviera a fracciones significativas de la velocidad de la luz, entonces sí seria apreciable de forma directa la variación de longitud de onda.

Sin embargo hay ejemplos cotidianos de efecto Doppler en los que la velocidad a la que se mueve el objeto que emite las ondas es comparable a la velocidad de propagación de esas ondas. La velocidad de una ambulancia (50 km/h) puede parecer insignificante respecto a la velocidad del sonido al nivel del mar (unos 1.235 km/h), sin embargo se trata de aproximadamente un 4% de la velocidad del sonido, fracción suficientemente grande como para provocar que se aprecie claramente el cambio del sonido de la sirena desde un tono más agudo a uno más grave, justo en el momento en que el vehículo pasa al lado del observador.

Alfonso Herrera
Electronica del estado solido
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Electron diffraction (LEED and RHEED) 2da publicacion. seccion 1. EES. alfonso herrera 2do parcial


La Rejilla Óptica está conformada por una lámina con perforaciones de
determinadas características geométricas y de una dimensión específica. Cada una de
las perforaciones, en su interior, es una pirámide truncada que forma con el múltiplo de
las bases un plano situado frente al ojo. Para comprenderlo mejor, la lámina podría
compararse con una sucesión infinita de estenopeicos. Con su utilización y la visión
por esas perforaciones, el paciente va mejorando su visión con el paso del tiempo.
Las investigaciones realizadas con referencia a la Rejilla Óptica se han basado
en las teorías de Newton, Huygens y Young. Estudiando el fenómeno físico de
interferencia de ondas luminosas, podemos afirmar que la "Rejilla Óptica Cosmos",
por la forma geométrica de sus múltiples perforaciones y del tamaño exacto,
proporciona al ojo infinidad de haces luminosos que al cruzarse brindan la amplitud
correspondiente a la suma de amplitudes de cada orificio. A consecuencia de este
fenómeno, se produce como resultado, la corrección de la agudeza visual y por
consiguiente, una mejor percepción. De esta manera, la "Rejilla Óptica Cosmos"
actúa como un fotómetro al lograr que el paciente conserve la noción panorámica
visual y obtenga un punto focal correcto.
Cuando dos o más ondas se cruzan en un punto determinado se dice que
interfieren en dicho punto, produciendo zonas de luz cuando llegan en fase, ó
contrariamente, zonas de obscuridad si llegan en oposición de fase al mismo punto.


Se denomina como Fase, a 2 puntos que se encuentran en el mismo estado
ondulatorio de su frecuencia vibracional.


Se le da este nombre a 2 puntos que se encuentran en un estado ondulatorio
opuesto en su frecuencia.

Para producir fenómenos de interferencia se necesitan trenes de onda
coherentes, esto es, ondas cuyos puntos abandonen siempre en fase sus respectivos
puntos de partida. Sería sumamente difícil de conseguir con fuentes de luz separadas.
Es por ello que, para la observación del mencionado fenómeno, se suele utilizar una
única fuente de luz que será productora de ondas coherentes tal como lo demuestra la experiencia de Young.

Alfonso Herrera

Electronica del estado solido

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Electron diffraction (LEED and RHEED) 1ra publicacion. seccion 1. EES. alfonso herrera 2do parcial

Difracción de Fraunhofer

La Difracción de Fraunhofer o también difracción del campo lejano es un patrón de difracción de una onda electromagnética cuya fuente (al igual que la pantalla) se encuentran infinitamente alejadas del obstáculo, por lo que sobre éste y sobre la pantalla incidirán ondas planas. La difracción de Fraunhofer es, de esta manera, un caso particular de la difracción de Fresnel, y que también resulta más sencillo de analizar. Este tipo de fenómeno es observado a distancias más lejanas que las del campo cercano de la difracción de Fresnel y ocurre solamente cuando el número de Fresnel es mucho menor que la unidad y se puede realizar la aproximación de rayos paralelos.

Una forma práctica de lograr la difracción de Fraunhofer en condiciones de laboratorio es utilizando lentes convergentes y divergentes para lograr el campo lejano y las ondas planas.
Alfonso Herrera
Electronica del estado solido
seccion 1